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Dickschichtkeramik-Messzelle

Prinzip Dickschichtkeramik-Messzelle

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Im Gegensatz zum Verfahren Dünnfilm-Dehnungsmess-Streifen wird die Wheatstone Brücke direkt auf eine Keramikmembrane geklebt. Die Biegung der Membrane durch den Außendruck verursacht eine Änderung der Widerstände dieser Wheatstone Brücke, welche in ein druckproportionales Signal umgewandelt wird. Durch die Verwendung von Keramik wird eine höhere chemische Beständigkeit gegenüber aggressiven Medien erreicht. Der Messbereich liegt höher als bei Dünnfilm-DMS-Verfahren. Allerdings erreicht die Messgenauigkeit nicht dessen Niveau.

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